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点到直线（点投影）测量

该功能用于测量棱镜点偏离基线起点的长度（X）、棱镜点偏离基线的距离（Y）和相对基线起点的高差（Z）。

测量前的准备工作为：设置仪器高和目标高和基线的定义。仪器高和目标高的输入这里不再叙述。

基线定义：在点投影界面中，选择“2.设置基线”进入选择设置基线点方法窗口。

调取基线点

当按[2]键，选择调取基线点时，进入输入或调取点窗口，如图所示，可以按[输入]键输入坐标点，也可以按[调取]键调取坐标点，完成后按[确认]键，进入基线终点的坐标输入，方法与起点相同，完成后返回到菜单。

测量基线点

在点投影菜单中，当按[1]键，进入到“点投影（起点）”窗口按 [测量]键启动测距，完成测距后，按[确认]键进入“点投影（终点）”窗口，按[测量]键启动测距。完成测距后，按[确认]键结束基线定义返回点投影测量主界面，选择“3.点投影测量”可以进行点投影的测量了。

点投影测量

在点投影菜单中，按[3]键，进入“点投影-测量”窗口，按[测量]键，启动测距，完成测距后即可显示待测点在基线上的偏离长度（X），偏距和偏离高差（Z）。

按[F4](翻页) →其中“标高”键用于重新输入目标高，“翻页”键用于选择所显示的是 X、Y、Z 还是测量点的平距、斜距、高差。

点投影法在基坑变形监测中的应用

水平位移监测是基坑变形监测的一项重要及必要内容，点投影法在全站仪上的直接应用，给基坑水平位移监测工作带来了巨大便利。

(1)、节省外业观测时间

由于基坑监测的特殊工作环境影响，监测过程中施工机械的遮挡、震动影响以及炎热天气等情况，缩短外业观测时间能提高工作效率，提高监测的准确性，同时也减轻作业人员的压力。

(2)、提高内业处理效率

内业数据处理是一个反复琐碎的过程，更要谨慎、细心。特别是监测数据的处理，由于监测数据量大，既要对原始数据进行各种平差等处理，又要制作各种成果表、曲线图，还要分析其变化趋势以及原因，不容出错。使用点投影法就能有效地解决问题，使用点投影法进行外业监测时，在建立好基准面后，直接对监测点进行观测，即能得到所需的位移量，将其与上次相减即能得到本次位移量，与首次相减即得到累计位移量，内业处理方便、快捷，且不易出错。

(3)、基坑变形反应更直观

基坑水平位移监测主要是通过监测点的变化来反应基坑的变化，由于基坑四周都会布置监测点，那么对于某一个监测点，我们只需要得到垂直其所在基坑边方向上的变化即可，而对于其他方向的变量，对基坑监测意义不大。因此，使用其他方式测量，还要进行内业处理加工，而使用点投影法就能方便快速的得出我们想要的数据，并能直观的反应基坑的变化，从而更好地达到监测的目的。